Máy phân tích kim loại xung quanh AMMS-100 XRF

I. TỔNG QUAN VỀ SẢN PHẨM

Hệ thống này tích hợp huỳnh quang tia X để phân tích kim loại lên đến 30 nguyên tố và mô hình suy giảm tia beta để theo dõi khối lượng hạt. Nhưng mô-đun sẽ sử dụng cùng một mẫu di chuyển tuần tự trên máy dò và sẽ có hiệu quả đáng kể trong việc truy tìm phát thải công nghiệp.

II. TÍNH NĂNG SẢN PHẨM

• Đo đồng thời 30 kim loại độc hại;
• Độ lớn giới hạn phát hiện 0,01-0,1ng/m3;
• Thử nghiệm không phá hủy mà mẫu màng có thể được bảo quản;
• Liên kết các phép đo với thời gian trong ngày hoặc điều kiện khí tượng để theo dõi nguồn cụ thể;
• Kết quả giám sát liên tục trong một cơ sở dữ liệu lớn có thể tiến hành mô hình hóa nguồn;
• Không có vật tư tiêu hao ngoại trừ băng lọc thay thế, không có phân tích trong phòng thí nghiệm, kết quả giám sát trực tuyến không có giám sát trong việc giảm chi phí và tiết kiệm thời gian;